SN74LVTH18646APMG4 Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
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Technische Details SN74LVTH18646APMG4 Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10).
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SN74LVTH18646APMG4 | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device -40C to 85C 64-Pin LQFP Tray |
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Specialty Function Logic 3.3-V ABT w/18-Bit Trnscvr & Register |
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