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SN74LVTH18504APM Texas Instruments
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Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
Packaging: Bulk
Package / Case: 64-LQFP
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 20
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10)
Part Status: Active
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Anzahl | Preis ohne MwSt |
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Technische Details SN74LVTH18504APM Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP, Packaging: Bulk, Package / Case: 64-LQFP, Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 20, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10), Part Status: Active.
Weitere Produktangebote SN74LVTH18504APM nach Preis ab 11.79 EUR bis 17.85 EUR
Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
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Preis ohne MwSt | ||||||||||||||||
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SN74LVTH18504APM | Hersteller : Texas Instruments |
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SN74LVTH18504APM | Hersteller : Texas Instruments |
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auf Bestellung 160 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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auf Bestellung 151 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
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auf Bestellung 385 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
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SN74LVTH18504APM | Hersteller : Texas Instruments |
![]() Packaging: Tray Package / Case: 64-LQFP Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 20 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-LQFP (10x10) Part Status: Active |
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