SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
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Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Packaging: Cut Tape (CT)
Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 18
Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V
Supplier Device Package: 64-TSSOP
auf Bestellung 1536 Stücke:
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Anzahl | Preis ohne MwSt |
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2+ | 14.15 EUR |
10+ | 12.78 EUR |
25+ | 12.19 EUR |
100+ | 10.58 EUR |
250+ | 10.11 EUR |
500+ | 9.22 EUR |
1000+ | 8.03 EUR |
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Technische Details SN74LVTH182512DGGR Texas Instruments
Description: IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP, Packaging: Tape & Reel (TR), Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 18, Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V, Supplier Device Package: 64-TSSOP.
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Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
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Preis ohne MwSt |
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SN74LVTH182512DGGR |
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SN74LVTH182512DGGR | Hersteller : Texas Instruments |
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![]() Packaging: Tape & Reel (TR) Package / Case: 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 18 Logic Type: ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 2.7V ~ 3.6V Supplier Device Package: 64-TSSOP |
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