SN74BCT8374ADW Texas Instruments
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Technische Details SN74BCT8374ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC, Packaging: Tube, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC, Part Status: Active.
Weitere Produktangebote SN74BCT8374ADW nach Preis ab 8.74 EUR bis 18.66 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis ohne MwSt | ||||||||||||||||
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SN74BCT8374ADW | Hersteller : Texas Instruments |
 Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
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SN74BCT8374ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal D-Typ Edge-Trig Flip-Flop |
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SN74BCT8374ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC Part Status: Active |
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| SN74BCT8374ADW |
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SN74BCT8374ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74BCT8374ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
Produkt ist nicht verfügbar |