SN74BCT8244ADW Texas Instruments
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| Anzahl | Preis ohne MwSt |
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| 1+ | 20.35 EUR |
| 10+ | 18.71 EUR |
| 25+ | 17.9 EUR |
| 100+ | 15.79 EUR |
| 250+ | 15.01 EUR |
| 500+ | 14.04 EUR |
| 1000+ | 12.88 EUR |
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Technische Details SN74BCT8244ADW Texas Instruments
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24, tariffCode: 85423990, rohsCompliant: YES, Bauform - Logikbaustein: SOIC, hazardous: false, rohsPhthalatesCompliant: YES, MSL: MSL 1 - unbegrenzt, usEccn: EAR99, Betriebstemperatur, min.: 0°C, Versorgungsspannung, min.: 4.5V, Logiktyp: Scantestbaustein, euEccn: NLR, Anzahl der Pins: 24Pin(s), Produktpalette: -, productTraceability: Yes-Date/Lot Code, Versorgungsspannung, max.: 5.5V, Betriebstemperatur, max.: 70°C, SVHC: No SVHC (17-Jan-2023).
Weitere Produktangebote SN74BCT8244ADW nach Preis ab 15.69 EUR bis 23.28 EUR
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
Verfügbarkeit |
Preis ohne MwSt | ||||||||||||||||
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SN74BCT8244ADW | Hersteller : Texas Instruments |
 Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC |
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SN74BCT8244ADW | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
Description: TEXAS INSTRUMENTS - SN74BCT8244ADW - Scan-Test-Baustein mit achtfachen Puffern, 4.5V bis 5.5V, SOIC-24 tariffCode: 85423990 rohsCompliant: YES Bauform - Logikbaustein: SOIC hazardous: false rohsPhthalatesCompliant: YES MSL: MSL 1 - unbegrenzt usEccn: EAR99 Betriebstemperatur, min.: 0°C Versorgungsspannung, min.: 4.5V Logiktyp: Scantestbaustein euEccn: NLR Anzahl der Pins: 24Pin(s) Produktpalette: - productTraceability: Yes-Date/Lot Code Versorgungsspannung, max.: 5.5V Betriebstemperatur, max.: 70°C SVHC: No SVHC (17-Jan-2023) |
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SN74BCT8244ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
auf Bestellung 325 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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| SN74BCT8244ADW |
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auf Bestellung 1852 Stücke: Lieferzeit 21-28 Tag (e) |
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SN74BCT8244ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74BCT8244ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
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