SN74BCT8240ADW Texas Instruments
Hersteller: Texas InstrumentsDescription: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers
Operating Temperature: 0°C ~ 70°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 24-SOIC
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Technische Details SN74BCT8240ADW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC, Packaging: Bulk, Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers, Operating Temperature: 0°C ~ 70°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 24-SOIC.
Weitere Produktangebote SN74BCT8240ADW
| Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
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Preis ohne MwSt |
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SN74BCT8240ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device |
auf Bestellung 50 Stücke: Lieferzeit 14-21 Tag (e) |
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SN74BCT8240ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
Produkt ist nicht verfügbar |
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SN74BCT8240ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Scan Test Device 0°C to 70°C 24-Pin SOIC Tube |
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SN74BCT8240ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Description: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC Packaging: Tube Package / Case: 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Inverting Buffers Operating Temperature: 0°C ~ 70°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 24-SOIC |
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SN74BCT8240ADW | Hersteller : Texas Instruments |
Specialty Function Logic Device w/Octal Inverting Buffers |
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