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SN74ABT8543DW Texas Instruments
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Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
Packaging: Bulk
Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Mounting Type: Surface Mount
Number of Bits: 8
Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Operating Temperature: -40°C ~ 85°C
Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V
Supplier Device Package: 28-SOIC
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Technische Details SN74ABT8543DW Texas Instruments
Description: IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC, Packaging: Bulk, Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width), Mounting Type: Surface Mount, Number of Bits: 8, Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver, Operating Temperature: -40°C ~ 85°C, Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V, Supplier Device Package: 28-SOIC.
Weitere Produktangebote SN74ABT8543DW nach Preis ab 15.95 EUR bis 22.21 EUR
Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
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SN74ABT8543DW | Hersteller : Texas Instruments |
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SN74ABT8543DW | Hersteller : Texas Instruments |
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SN74ABT8543DW | Hersteller : TEXAS INSTRUMENTS |
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SN74ABT8543DW | Hersteller : Texas Instruments |
![]() Packaging: Tube Package / Case: 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) Mounting Type: Surface Mount Number of Bits: 8 Logic Type: Scan Test Device with Registered Bus Transceiver Operating Temperature: -40°C ~ 85°C Supply Voltage: 4.5V ~ 5.5V Supplier Device Package: 28-SOIC |
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