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SN74ABT8245DW

SN74ABT8245DW Texas Instruments

suppproductinfo.tsp?distId=10&gotoUrl=https%3A%2F%2Fwww.ti.com%2Flit%2Fgpn%2Fsn74abt8245 scbs124d.pdf Hersteller: Texas Instruments
Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube
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Technische Details SN74ABT8245DW Texas Instruments

Scan Test Device -40°C to 85°C 24-Pin SOIC Tube.

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