Foto | Bezeichnung | Hersteller | Beschreibung |
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WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI-ASA |
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WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI |
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WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI-ASA |
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WAFFLE PACK | Microsemi | WAFFLE PACK^MICROSEMI-ASA |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING | Microsemi | DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) | Microsemi | DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI |
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JANS2N3637L-DESTRUCT | Microsemi |
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING | Microsemi | Inventory consumed in destructive testing |
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MSFC60-08 | Microsemi |
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MSFC160-12 | Microsemi |
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MSFC160-08 | Microsemi |
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MSFC130-16 | Microsemi |
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MSFC130-08 | Microsemi |
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MSFC110-16 | Microsemi |
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MSFC110-12 | Microsemi |
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MSFC110-08 | Microsemi |
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MSFC25-08 | Microsemi |
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MSFC25-16 | Microsemi |
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MSFC25-12 | Microsemi |
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MSFC160-16 | Microsemi |
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MSFC90-08 | Microsemi |
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MSFC60-16 | Microsemi |
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MSFC40-12 | Microsemi |
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MSFC40-08 | Microsemi |
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SM12E3/TR7 | Microsemi |
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A54SX16-CQ256B | Microsemi |
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5962-9956903QYC | Microsemi |
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5962-9956903QXC | Microsemi |
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5962-9956904QYC | Microsemi |
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5962-9956904QXC | Microsemi |
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A54SX16-1CQ256B | Microsemi |
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CHF1.5KE56CA | Microsemi |
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LX1973BIPL | Microsemi |
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MSCD70-18 | Microsemi |
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APT25GF120JCU2 | Microsemi |
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JAN1N1124A | Microsemi |
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MX-043-0002-10M0000000 | Microsemi | 611203011 |
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JAN1N6063A | Microsemi |
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MSAD70-18 | Microsemi |
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) |
Hersteller: Microsemi
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) |
Hersteller: Microsemi
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Hersteller: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Hersteller: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Hersteller: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) |
Hersteller: Microsemi
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS GROUP TESTING |
Hersteller: Microsemi
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
DESTRUCT UNITS GROUP TESTING^MICROSEMI
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) |
Hersteller: Microsemi
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) |
Hersteller: Microsemi
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
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DZ941216A (DESTRUCT UNITS) |
Hersteller: Microsemi
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
DZ941216A (DESTRUCT UNITS)^MICROSEMI
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JANS2N3637L-DESTRUCT |
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Hersteller: Microsemi
Trans GP BJT PNP 175V 1A 1000mW 3-Pin TO-5 Tray
Trans GP BJT PNP 175V 1A 1000mW 3-Pin TO-5 Tray
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DESTRUCT UNITS - CHART 2B TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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DESTRUCT UNITS - LAT 1 TESTING |
Hersteller: Microsemi
Inventory consumed in destructive testing
Inventory consumed in destructive testing
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MSFC25-12 |
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Hersteller: Microsemi
SCR Module Diode 1200V 550A 5-Pin Case F1
SCR Module Diode 1200V 550A 5-Pin Case F1
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MSFC90-08 |
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Hersteller: Microsemi
SCR Module Diode 800V 2000A 5-Pin Case F1
SCR Module Diode 800V 2000A 5-Pin Case F1
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MSFC40-08 |
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Hersteller: Microsemi
SCR Module Diode 800V 1000A 5-Pin Case F1
SCR Module Diode 800V 1000A 5-Pin Case F1
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SM12E3/TR7 |
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Hersteller: Microsemi
ESD Suppressor Diode TVS Uni-Dir/Bi-Dir 12V 24Vc 3-Pin SOT-23 T/R
ESD Suppressor Diode TVS Uni-Dir/Bi-Dir 12V 24Vc 3-Pin SOT-23 T/R
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A54SX16-CQ256B |
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Hersteller: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
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5962-9956903QYC |
![]() |
Hersteller: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
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5962-9956903QXC |
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Hersteller: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 205MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
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5962-9956904QYC |
![]() |
Hersteller: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 208-Pin CQFP
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5962-9956904QXC |
![]() |
Hersteller: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
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A54SX16-1CQ256B |
![]() |
Hersteller: Microsemi
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
FPGA SX Family 16K Gates 924 Cells 240MHz 0.35um Technology 3.3V/5V 256-Pin CQFP
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CHF1.5KE56CA |
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Hersteller: Microsemi
TVS Diode Single Bi-Dir 47.8V 1.5KW 2-Pin Flip-Chip
TVS Diode Single Bi-Dir 47.8V 1.5KW 2-Pin Flip-Chip
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LX1973BIPL |
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Hersteller: Microsemi
Light to Voltage Ambient Light Sensor 5V Automotive 8-Pin MSOP
Light to Voltage Ambient Light Sensor 5V Automotive 8-Pin MSOP
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APT25GF120JCU2 |
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Hersteller: Microsemi
Trans IGBT Module N-CH 1200V 45A 227000mW
Trans IGBT Module N-CH 1200V 45A 227000mW
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JAN1N1124A |
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Hersteller: Microsemi
Rectifier Diode Switching 200V 3.3A 2-Pin DO-4 Tray
Rectifier Diode Switching 200V 3.3A 2-Pin DO-4 Tray
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JAN1N6063A |
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Hersteller: Microsemi
TVS Diode Single Bi-Dir 82V 1.5KW 2-Pin DO-13 Bag
TVS Diode Single Bi-Dir 82V 1.5KW 2-Pin DO-13 Bag
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